正印科技提供可用于图像质量测试的多种类型透射光源,适用于摄像头实验室、生产线等场景使用,配合不 同的测试卡可以满足不同客户的不同类型摄像头测试要求。超低照光源广泛应用于各类红外夜视仪,微光监控等需要在超低照条件下的成像质量测试。
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正面 | 侧面 |
参数 |
CS-LEIS-1 超低照度高均匀性光源 |
CS-LEIS-2 多色温滤片式均匀性光源 |
色温 | 2800K(±200K) |
2300K、2800K、5000K、6500K、7500K 三种可选,可手动切换色温
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光谱范围 | 380 ~ 1800 nm(连续光谱) | 380 ~ 1100nm(连续光谱) |
光源亮度 | 3-6cd/㎡~ 30cd/㎡ | 1cd/㎡ ~ 1000 cd/㎡ |
表面照度 | 10-5lux ~ 100lux | 1lux ~ 3000 lux |
光源有效照面 | 290 x 220 mm | |
支持最大图卡尺寸 | 350 x 290 mm | |
照度均匀性 |
>98%,中心10×10cm大于99% |
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显色指数 Ra | >99(2800K) | |
灯源使用寿命 | >1000 h | |
外形尺寸 | 660 × 511 × 698 mm(L×W×H)可以配合透射测试卡使用 | |
控制方式 | 触摸屏或软件控制(485 及USB) | |
支持测试卡种类 | 透射测试卡:色彩测试卡、分辨力测试卡、畸变测试卡、动态范围测试卡等 | |
开放SDK | 选配 | |
外置传感器 | Light Control(选配) | |
供电 |
220V±10% |
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工作环境 | 室内,15~25℃;湿度:30% ~ 50% |
测试卡 | 图示 | 可测试参数 |
eSFR测试卡 |
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可用于测试分辨力、畸变、色彩还原 |
USAF 1951测试卡 |
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可用于测试分辨力 |
ISO 12233 测试卡 |
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可用于测试分辨力、ISO12233标准 |
ISO 14524测试卡 |
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可用于测试动态范围、信噪比、ISO14524标准 |
更多支持的测试卡信息 |
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