随着红外相机的在安全国防、安防监控、生活消费电子等领域的广泛应用，对评估红外图像质量的技术要求也越高。到目前为止，由于红外测试卡和分析红外图像的软件的限制，红外摄像系统远落后于用可见光相机系统测试技术。在进行客观的图像质量参数分析的时候，如清晰度，需要拍摄图像中具有足够的对比度，没有对比度就无法加测和分析图像边缘。

在红外相机系统测试的时候，会遇到以下问题：

· 比较难以预测材料在各种红外波长下测试的对比度

· 红外摄像机会采集反射光和发射光，因此根据捕获的红外波长，发射光和反射光的混合可能导致采集的图像几乎没有对比度，造成软件无法对图像进行分析。

正印科技推出的短中波红外测试卡（S/MWIR）和长波红外测试卡（LWIR），能够精确测量清晰度和客观地测量在相机图像传感器的全幅面。同时测试卡也支持分析其他关键红外图像质量参数：噪点、畸变、锐度等。

长波红外测试卡（LWIR）：

（1）尺寸： 61cm×91.5cm（24.02"×36.02"）, 厚度为0.3厘米衬底的铝版。不仅可以在实验室也可以在条件恶劣的环境中用于支持相机测试。

（4）软件提供可信的测量：红外软件嵌入在Imatest的Master版本里，Imatest master 是多功能图像质量测试软件。Imatest不断丰富功能，比如能够处理通过长波红外相机捕捉到的negative的SFRplus图像。

其他相关测试设备&测试卡介绍：

1. 中波红外测试卡

2. 红外透射光源

3. 可见光+红外动态范围测试卡

4. 可见光及红外光谱照度计

5. Imatest Master软件

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